āđāļĄāđāļāļĢāļāļīāļ āđāļāļāđāļāđāļĨāļĒāļĩ (āđāļāļĒāđāļĨāļāļāđ) āļāļģāļāļąāļ
āđāļĄāđāļĢāļ°āļāļļāļāļģāđāļŦāļāđāļ - āļāļāļĩāļāļāļāļąāļāļāļēāļ
āļŠāļĄāļāļļāļĨāļāļĩāļ§āļīāļāļāļēāļĢāļāđāļēāļāļēāļ
āļŠāļ§āļąāļŠāļāļīāļāļēāļĢāđāļĨāļ°āļāļĨāļāļĢāļ°āđāļĒāļāļāđ
āļāļ§āļēāļĄāļāđāļēāļ§āļŦāļāđāļēāļāļāļāļāļēāļāļĩāļ
āļāļĢāļĢāļĒāļēāļāļēāļĻāļāļāļāļāļĩāđāļāđāļēāļāļēāļ
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āļāļĢāļ°āļŠāļāļāļēāļĢāļāđāļāļĩāđāđāļāđāļĢāļąāļāļāļēāļāļāļĢāļīāļĐāļąāļāļāļĩāđ
āļāļēāļĢāļāļģāļāļēāļāļāļĩāđāđāļāđāļāļĢāļ°āđāļāļĩāļĒāļāđāļāļāđāļāļ āļŦāļąāļ§āļŦāļāđāļēāļāļąāļāļāļāļāļāļĩāļĄāļēāļ
āđāļĄāđāļāļĢāļāļīāļ āđāļāļāđāļāđāļĨāļĒāļĩ (āđāļāļĒāđāļĨāļāļāđ) āļāļģāļāļąāļ
"āđāļāđāļāļąāļāļŦāļē site fail low yield test IC "
āļāđāļēāļāļāđāļāļĄāļāļģāļĢāļļāļ - āļāļāļĩāļāļāļāļąāļāļāļēāļ
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āļāļģ procedure convert package run IC āļŠāļģāđāļĢāđāļ āđāļāđāļāļąāļāļŦāļē tester hard down āđāļĨāļ° set up tester MMT microchip
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